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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

SEM Di alta risoluzione Estremo di FEI Permette la Sotto Risoluzione di Nanometro

Published on December 26, 2008 at 7:43 AM

Il nuovo microscopio elettronico a scansione ad alta definizione estremo del Magellan™ di FEI (XHR SEM) permette che gli scienziati e gli ingegneri vedano rapidamente le immagini di superficie 3D a molti angoli differenti ed alle risoluzioni inferiore ad un nanometro (circa la dimensione di dieci atomi di idrogeno, parallelamente). Per di più, i campioni di immagini di Magellan XHR SEM alle energie molto basse del raggio, evitanti le deformazioni causate altrimenti dal raggio che penetra nel materiale qui sotto.

Il Magellan SEM Di alta risoluzione Estremo da FEI.

FEI consegna le soluzioni più innovarici per la rappresentazione, la caratterizzazione ed il modello al nanoscale. I TEM più avanzati della società, SEM e le soluzioni di DualBeam™ sono stati creati specificamente per scienza dei materiali, scienze biologiche ed estrazione mineraria. Visualizzi Prego FEI a Pittcon 2009 in cabina 1642 per imparare più circa il Magellan ed altre tecniche ad alta definizione di microscopia.

Last Update: 17. January 2012 06:22

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