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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

SEM De alta resolução Extremo de FEI Permite a Definição Secundária do Nanômetro

Published on December 26, 2008 at 7:43 AM

O microscópio de elétron de alta resolução extremo novo da exploração do Magellan™ de FEI (XHR SEM) permite que os cientistas e os coordenadores ver rapidamente as imagens 3D de superfície em muitos ângulos diferentes e em definições abaixo de um nanômetro (sobre o tamanho de dez átomos de hidrogênio, de lado a lado). Mais importante ainda, as amostras das imagens de Magellan XHR SEM nas energias muito baixas do feixe, evitando as distorções causadas de outra maneira pelo feixe que penetra no material abaixo.

O Magellan SEM De alta resolução Extremo de FEI.

FEI entrega as soluções as mais inovativas para a imagem lactente, a caracterização e a prototipificação no nanoscale. Os TEM os mais avançados da empresa, SEM, e as soluções de DualBeam™ foram criados especificamente para a ciência de materiais, a ciência da vida, e a mineração. Visite Por Favor FEI em Pittcon 2009 na cabine 1642 para aprender mais sobre o Magellan e outras técnicas de alta resolução da microscopia.

Last Update: 14. January 2012 11:42

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