Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

Разрешение SEM FEI Весьма Высокое Позволяет Sub Разрешению Нанометра

Published on December 26, 2008 at 7:43 AM

Электронный кинескоп скеннирования высок-разрешения Magellan™ FEI новый весьма (XHR SEM) позволяет научным работникам и инженерам быстро увидеть поверхностные изображения 3D на много различных углов и на разрешениях под одним нанометром (о размере 10 атомов, сторон--сторон водопода). Наиболее важно, образцы изображений Magellan XHR SEM на очень низких энергиях луча, во избежание искажения в противном случае причиненные лучем прорезывая в материал ниже.

Разрешение SEM Magellan Весьма Высокое от FEI.

FEI поставляет самые новаторские разрешения для воображения, характеризации и прототипирования на nanoscale. TEM компании самые предварительные, SEM, и разрешения DualBeam™ были созданы специфически для науки материалов, наук о жизни, и минирования. Пожалуйста посетите FEI на Pittcon 2009 в будочке 1642 для того чтобы выучить больше о Magellan и других методах микроскопии высок-разрешения.

Last Update: 14. January 2012 15:04

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit