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Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

FEI 的极其高分辨率 SEM 允许子毫微米解决方法

Published on December 26, 2008 at 7:43 AM

FEI 的新的 Magellan™极其高分辨率扫描电子显微镜 (XHR SEM) 允许科学家和工程师迅速发现 3D 表面图象在许多不同的角度和在解决方法在一毫微米以下 (大约十氢原子的范围,并行)。 最重要,在非常低射线能源的 Magellan XHR SEM 图象范例,避免射线否则造成的畸变击穿到下面材料。

从 FEI 的 Magellan 极其高分辨率 SEM。

FEI 提供想象、描述特性和原型的最创新的解决方法在 nanoscale。 公司的最先进的 TEM、 SEM 和 DualBeam™解决方法为材料学、生命科学和开采特别地被创建了。 请在 Pittcon 参观 FEI 2009年在摊 1642 了解更多关于 Magellan 和其他高分辨率显微学技术。

Last Update: 14. January 2012 08:01

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