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FEI 的極其高分辨率 SEM 允許子毫微米解決方法

Published on December 26, 2008 at 7:43 AM

FEI 的新的 Magellan™極其高分辨率掃描電子顯微鏡 (XHR SEM) 允許科學家和工程師迅速發現 3D 表面圖像在許多不同的角度和在解決方法在一毫微米以下 (大約十氫原子的範圍,並行)。 最重要,在非常低射線能源的 Magellan XHR SEM 圖像範例,避免射線否則造成的畸變擊穿到下面材料。

從 FEI 的 Magellan 極其高分辨率 SEM。

FEI 提供想像、描述特性和原型的最創新的解決方法在 nanoscale。 公司的最先進的 TEM、 SEM 和 DualBeam™解決方法為材料學、生命科學和開採特別地被創建了。 請请在 Pittcon 參觀 FEI 2009年在攤 1642 瞭解更多關於 Magellan 和其他高分辨率顯微學技術。

Last Update: 24. January 2012 06:32

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