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Posted in | Nanoindentation

El MFP-3D NanoIndenter del Asilo Seleccionado como Productos de la Parte Superior Cinco Exhibidos en el Simposio de AVS

Published on January 7, 2009 at 9:58 PM

AVS y la Investigación del Asilo han anunciado que se ha seleccionado el MFP-3D™ NanoIndenter del Asilo mientras que uno de los cinco productos superiores exhibidos en el Simposio Internacional de AVS en octubre. El MFP NanoIndenter del Asilo es un penetrador “equipado” verdadero y es el primer penetrador AFM-basado que no utiliza los voladizos como parte del mecanismo de melladura. Estas características y el uso de los sensores avanzados del AFM proporcionan a ventajas sustanciales en exactitud, la precisión y la sensibilidad sobre otros sistemas nanoindenting. A Diferencia de penetradores voladizos, el MFP NanoIndenter impulsa la perpendicular de melladura de la punta a la superficie. Este mecanismo impulsor vertical evita el movimiento y los desvíos laterales que son inherentes en sistemas voladizo-basados. Comparado a los nanoindenters equipados convencionales, el MFP NanoIndenter provee de límites de detección más inferiores y de mediciones más de alta resolución de la fuerza y de la profundidad del sangrado de márgenes la precisión superior del AFM que detecta tecnología. La exactitud de colocación es subnanometer usando los sensores nanopositioning del bucle cerrado del MFP. El NanoIndenter puede operatorio bajo el líquido y en las temperaturas hasta 300C.

El Presidente de la Investigación del Asilo, el Dr. Rogelio Proksch comentó “Nuestras ventajas sin obstrucción de las ofertas de MFP NanoIndenter sobre AFM-basado y los nanoindenters convencionales y la Recompensa del Producto de AVS valida más lejos nuestra aproximación. El penetrador es integrado totalmente con el AFM, proporcionando a la capacidad única de cuantificar áreas de contacto realizando la metrología del AFM de ambos la punta de melladura y el sangrado de márgenes resultante. Estas mediciones directas activan el análisis de propiedades materiales con métodos indirectos en relación con del cálculo de la exactitud sin precedente.”

Last Update: 17. January 2012 05:11

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