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陰性の要素の測定のための Hiden の進水のセシウムイオン銃

Published on January 29, 2009 at 10:46 AM

分析的な Hiden は陰性の要素の SIMS の測定の一次イオンビームのアプリケーションとセシウムのデータ・クラスタリングのための新しい IG-5C のセシウムイオン銃を導入します。 銃がダイナミックに理想的に適されて証明する一義的な低電力の、高明るさイオンソース、コンパクトなイオンコラムおよびビームステアリングモジュール、空電およびイメージ投射 SIMS を使って。

表面のイオン化ソースから作り出されるセシウムイオンの強いビームは非常に集中し、ちょうど 20 ミクロンに点サイズの調節可能な羽毛を生成します。 イオンソースアセンブリはコンパクトであり、取り替えやすい自己一直線に並びます。 ビームエネルギーは 150nA に 5kev からビーム流れとの 0.5kev に可変的、です。 取り付けフランジは 2.75inch/70mm の直径の Conflat タイプのフランジであり、本当 UHV 圧力を維持するために単位は特異的にポンプでくまれます。

IG-5C の制御は PC ベースインターフェイスによってありま容易で、再生可能なセットアップを許可します。 インタフェース・コントロールは高く現在および小さいスポット施用にイオンソースの電極パラメータそして熱管理、およびコンフィギュレーションオプションを提供します。 ビームラスターは 64 マイクロ秒のそしてビーム偏向による最小の広がりの時間と +/-4mm 外部にの運転することができます。 内部プリセットラスターは生地ごしらえの処置にその上に提供されます。 Hiden 格言または EQS SIMS の探知器が付いている直接結合は合計によってスキャンされる表面内のあらゆるあらかじめ定義された領域からのデータおよび表面イメージ投射の獲得のためにゲートで制御する自動化されたシグナルを可能にします。

Last Update: 14. January 2012 09:08

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