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Posted in | Nanobusiness

Hiden Lançamento Ion Gun césio para a medição de elementos eletronegativos

Published on January 29, 2009 at 10:46 AM

Hiden Analytical apresentar o novo IG-5C césio Gun Ion para aplicações de íons primários trave no SIMS medição de elementos eletronegativos e para análise de cluster de césio. Com única baixa potência, alto brilho fonte de íons coluna ion, compacta e módulo de direção do feixe a arma ideal para prova dinâmica, estática e SIMS imagem.

O intenso feixe de íons de césio produzido a partir da fonte de ionização de superfície é muito centrado e gera um tamanho de ponto regulável para apenas 20 mícrons. O conjunto de fonte de íons é compacto, auto-alinhamento e simples de substituir. Feixe de energia é variável de 5kev para 0.5kev, com correntes de feixe para 150nA. O flange de montagem é o diâmetro 2.75inch/70mm flange Conflat tipo ea unidade é diferencialmente bombeado para manter a pressão verdadeira UHV.

Controle do IG-5C é através de uma interface baseada em PC que permite configuração fácil e reprodutível para cima. A interface controla os parâmetros do eletrodo e gerenciamento térmico da fonte de íons, e fornece opções de configuração para aplicações de alta tanto no local atual e pequenas empresas. A varredura do feixe pode ser comandado do exterior com um tempo de varredura mínimo de 64 microssegundos e através de uma deflexão do feixe de + /-4mm. Uma varredura interna preset é adicionalmente previstas tratamentos preparação da superfície. Acoplamento direto com um MAXIM Hiden ou detector EQS SIMS permite gating sinal automático de aquisição de dados e de imagem em superfície de qualquer área pré-definida na superfície total digitalizada.

Last Update: 26. October 2011 22:10

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