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Posted in | Nanobusiness

Detector de la Desviación del Silicio de la Área Extensa de los Instrumentos de Oxford el Nuevo para SEM Excede Expectativas

Published on January 30, 2009 at 8:13 AM

¡Los Clientes que buscaban productividad mejorada y exactitud creciente han realizado que importa la talla realmente! Las Pedidos para detector de la desviación del silicio de la área extensa de los Instrumentos de Oxford el nuevo para SEM han excedido expectativas, y han roto los archivos anteriores para los lanzamientos de nuevo producto.

Parece que los clientes, nuevo y viejo, quieren beneficiarse de esta nueva tecnología del detector con el 20mm2, el 50mm2, y el 80mm2 que vende todo bien. Encantan a los Clientes que han tomado ya salida de su detector X-Máximo con los resultados. Reputación de los Instrumentos de Oxford la' para entregar productos de calidad se prueba de nuevo.

Las Substancias Químicas A/S de FeF en Copenhague, Dinamarca son una de las primeras compañías para recibir su nuevo detector X-Máximo 20. Están muy contentas con los resultados que han logrado hasta ahora, con su portavoz de la compañía diciendo que “Somos muy felices con nuestra nueva inversión en un detector X-Máximo. El sistema se ha instalado solamente por 2 semanas, pero muy nos satisfacen ya con las duraciones de análisis rápidas y la productividad creciente el detector ofrece. Estamos trabajando con muchas diversas muestras incluyendo los materiales biológicos y observamos hacia adelante a explorar las posibilidades del análisis en muestras sensibles del haz con X-Máximo. Contamos con que este detector sea un caballo de labranza real en el futuro.”

Last Update: 17. January 2012 04:41

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