La Recherche d'Asile Prend En Charge l'Atelier Atomique Libre de Microscopie de Force à l'Institut de Technologie de la Géorgie

Published on February 5, 2009 at 6:01 PM

La Recherche d'Asile prendra en charge un Atelier atomique libre de microscopie (AFM) de force le 12 février et 13, 2009 au Bâtiment de Pettit/au Centre de Recherche de la Microélectronique (MiRC) sur le campus d'Institut de Technologie de la Géorgie (Tech de la Géorgie). L'Atelier comprendra trois entretiens principaux par des chercheurs de Tech de la Géorgie sur Nanogenerators (M. Jinhui Song), d'Assemblée Hétérogène de Lipoprotéine et de Structure (M. Todd Shulchek), et sur Microgels sur des Surfaces (M. Toni South).

M. Nick Geisse et Keith Jones de scientifiques de Recherches d'Asile parlera de la technologie d'instrument d'AFM et de la Représentation d'AFM et Optique combinée. Le premier jour de l'atelier comprendra les entretiens décrits ci-dessus, ainsi qu'une séance de démonstration d'AFM d'après-midi sur le MFP-3D-BIO™ AFM. Le deuxième jour de l'atelier poursuivra des démonstrations en profondeur d'applications d'AFM. Le Déjeuner sera fourni sur le 12ème. L'Atelier est ouvert de tous les chercheurs et élèves ; l'installation est limitée et tous les participants doivent pré-repérage. Des détails Complets sur l'atelier, ainsi que l'information d'inscription en ligne, peuvent être trouvés chez www.asylumresearch.com/GaTech/.

La Recherche d'Asile est l'amorce de technologie la force et la microscopie atomiques de sonde de lecture (AFM/SPM) pour des matériaux et des applications de biosciences. Commencé par d'anciens employés des Instruments de Digitals en 1999, l'Asile est consacré à l'instrumentation novatrice pour le nanoscience et la nanotechnologie, avec sur 200 ans d'expérience combinée d'AFM/SPM de nos scientifiques, ingénieurs et programmateurs de logiciel. Nos instruments sont utilisés pour un grand choix d'applications de nanoscience dans la science des matériaux, la physique, les polymères, la chimie, les biomatériaux, et les biosciences, y compris des expériences mécaniques de molécule unique sur l'ADN, le déploiement de protéine et l'élasticité de polymère, ainsi que les mesures de force pour des biomatériaux, se sentir chimique, des polymères, forces colloïdales, adhérence, et plus.

La ligne de produits de l'Asile offre des capacités avancées de représentation et de mesure pour un large éventail d'échantillons, y compris le Double mode d'AC™, le Q-Control iDrive, de ™, la caractérisation électrique (CAFM, KFM, EFM), la microscopie à haute tension de force de piezoresponse (PFM), la microscopie de force magnétique (MFM) avec notre seul module de zone variable, nanoindenting quantitatif, et un large éventail d'accessoires environnementaux et de modules application-disponibles.

Le MFP-3D de l'Asile, a fixé la norme pour la technologie d'AFM, avec la précision et la souplesse sans précédent. Le MFP-3D est le premier AFM avec véritable positionner piézo-électrique indépendant dans des chacune des trois haches, combinées avec la technologie des sondes en boucle bloquée à faible bruit de contrôle par retour de l'information. Le MFP-3D offre les deux le visionnement d'échantillon de haut et bas pour l'intégration facile avec les microscopes optiques inversés les plus disponibles dans le commerce.

Le Chiffrement neuf AFM de l'Asile est le premier petit échantillon complet neuf AFM/SPM dans au-dessus d'une décennie, et fixe la norme neuve en tant qu'AFM le plus de haute résolution du monde. Le Chiffrement fournit à la définition atomique de boucle bloquée de faible-chassoir pour aujourd'hui possible d'images le plus précis et de mesures, la représentation rapide À C.A. de petits encorbellements, le cadrage de laser automatisé par Endroit-On™ pour l'installation facile, la thermique intégrée, le contrôle acoustique et de vibration, et le soutien grand de tous les modes et capacités de lecture importants d'AFM/SPM.

Interrogez-nous au sujet de notre support légendaire de produit et d'applications et de notre cautionnement de retour de six mois exclusif de satisfaction.

Last Update: 11. January 2012 17:17

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