De Wetenschappelijk Onderzoekers van het Asiel om het Werk in de Microscopie van de Kracht Piezoresponse op de Vergadering van MEVR. Voor Te Stellen de Lente

Published on February 9, 2009 at 6:22 PM

De Wetenschappelijk onderzoekers van het Asiel zullen hun recent werk in de Microscopie van de Kracht Piezoresponse op (PFM) de aanstaande Vergadering van MEVR. de Lente, Zitting JJ, in San Francisco, CA op 15-17 April, 2009 voorstellen.

Dr. Roger Proksch zal van het Asiel mede-instructeur voor een leerprogramma op 15 April op „de Microscopie van de Kracht Nanoscale Electromechanics en Piezoresponse - Recente Vooruitgang en Toepassingen op Ferroelectric en Biologische Systemen“ met Drs. Alexei Gruverman (Universiteit van Nebraska-Lincoln) en William Brownell (Universiteit Baylor van Geneeskunde) zijn.

Dr. Proksch zal ook een uitgenodigd document getiteld de „Multifrekwentie Afbeelding van de Reactie en van de Dissipatie in Actieve Materialen“ op 16 April voorleggen, dat door „op nanoindentation-Gebaseerde Weergave Piezoresponse en spanning-Veroorzaakte Wijziging van Ferroelectric Domeinen“ die door Dr. Alejandro Bonilla (met Keith Jones en Roger Proksch) wordt gevolgd worden voorgesteld, ook van het Onderzoek van het Asiel. De Zitting JJ is open aan alle aanwezigen van MEVR. en door Dr. Brownell, Dr. Sergei V. Kalinin (het Nationale Laboratorium van Oak Ridge), Dr. Anna N. Morozovska (Nationale Academie van Wetenschappen van de Oekraïne), en Dr. Nagarajan Valanoor (Universiteit van Nieuw Zuid-Wales) voorgezeten. De Geavanceerde mogelijkheden van de Microscopie van de Kracht Piezoresponse worden aangeboden bij al Onderzoek AFMs van het Asiel, met inbegrip van de Reeks mfp-3D™ en nieuwe Cypher™ AFM. Een 24 paginamonografie op de Microscopie van de Kracht Piezoresponse is beschikbaar gratis bij het Onderzoek van het Asiel en kan in www.asylumresearch.com worden bekeken.

Last Update: 11. January 2012 16:09

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit