Sonde Applicate del Silicio di Nanostructures

Le Sonde Applicate del Silicio di Nanostructures sono disponibili nelle configurazioni differenti quale la trave a mensola lunga e breve per le applicazioni del modo senza contatto e della spillatura, le sonde multi-a mensola per la calibratura della forza, le sonde per microscopia di modulazione della forza, le sonde per le applicazioni del contatto e le sonde con i vari livelli di compensazione di inclinazione.

Le Applicazioni delle Sonde Applicate del Silicio di Nanostructures includono:

  • Diriga la visualizzazione ottica del suggerimento del AFM
  • Spillando, contatti e le applicazioni del modo senza contatto
  • Calibratura costante della Sorgente delle sonde di SPM
  • Microscopia di Modulazione della Forza
  • Rappresentazione o Metrologia di Profondità della Fossa.

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