Pontas De Prova Aplicadas do Silicone de Nanostructures

As Pontas De Prova Aplicadas do Silicone de Nanostructures estão disponíveis em configurações diferentes tais como o modilhão longo e curto para aplicações do modo da batida e do não-contacto, multi-modilhão sondam para a calibração da força, sondam para a microscopia da modulação da força, sondam para aplicações do contacto e sondam com vários graus de compensação da inclinação.

As Aplicações de Pontas De Prova Aplicadas do Silicone de Nanostructures incluem:

  • Dirija a ideia óptica da ponta do AFM
  • Batendo, contacte e aplicações do modo do não-contacto
  • Calibração constante da Mola de pontas de prova de SPM
  • Microscopia da Modulação da Força
  • Imagem Lactente ou Metrologia da Profundidade da Trincheira.

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