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PANalytical Lança o Pacote Standardless Novo da Análise em PITTCON 2009

PITTCON 2009 (os 8-13 de março, Chicago, EUA) verá o lançamento do pacote standardless novo da análise de PANalytical, Omnian. Este módulo o mais atrasado no conjunto de software provado do SuperQ da empresa é projectado ser usado com o espectrómetro seqüencial da fluorescência do Raio X (XRF) de Axios.

Omnian resolve seus desafios analíticos

Omnian dá a resposta ideal para a caracterização e a análise de amostras desconhecidas, ou nas situações onde os padrões certificados que combinam características específicas da amostra não estão disponíveis.

Omnian pode segurar uma grande variedade de tipos da amostra tais como sólidos, pós pressionados, grânulos fundidos, pós fracos e líquidos. O software é adaptável, segundo a experiência do usuário ou o modo desejado de operação. Com sua potência problem-solving trata os desafios analíticos que incluem a quantificação da amostra, a análise da selecção e da falha, assim como a comparação de materiais diferentes.

Omnian é ajustado para transformar-se a marca de nível nova nestas aplicações importantes. É projectado fornecer a quantificação rápida, segura modo na caixa negra do ` da opção'. Contudo, os dados recolhidos são detalhados e podem ser revistos mais extensivamente.

O sistema ajusta automaticamente aos efeitos da amostra e da matriz assim como à espessura da amostra, ao volume e à composição da Escuro-Matriz do `'. Pode ser ajustado para a precisão aumentada usando a Caracterização Adaptável da Amostra (ASC).

Omnian é apoiado pela rede mundial de PANalytical de especialistas do apoio e do serviço. Para mais informação, visita www.panalytical.com/omnian

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