Posted in | Nanoanalysis

PANalytical Запускает Новый Standardless Пакет Анализа на PITTCON 2009

PITTCON 2009 (8-ое-13 марта, Чiкаго, США) увидит старт пакета анализа PANalytical нового standardless, Omnian. Этот самый последний модуль в сюите ПО SuperQ компании доказанной конструирован быть использованным с спектрометром флуоресцирования Рентгеновского Снимка Axios (XRF) последовательным.

Omnian разрешает ваши аналитически возможности

Omnian обеспечивает идеально ответ для характеризации и анализа неизвестных образцов, или в ситуациях где аттестованные стандарты которые соответствуют специфическим характеристикам образца не доступны.

Omnian может отрегулировать большое разнообразие типов образца как твердые тела, отжатые порошки, сплавленные шарики, свободные порошки и жидкости. ПО способно к адаптации, в зависимости от опыта пользователя или пожеланного режима деятельности. С своей problem-solving силой оно общается с аналитически возможностями включая квантификацию образца, анализ скрининга и отказа, так же, как сравнение различных материалов.

Omnian установлено для того чтобы стать новой отметкой уровня в этих важных применениях. Оно конструирован для того чтобы обеспечить быструю, надежную квантификацию в режим черном ящике ` значения по умолчанию'. Однако, собранные данные всесторонни и могут быть расмотрены обширно.

Система регулирует автоматически к влияниям образца и матрицы так же, как толщине образца, тому и составу Темн-Матрицы `'. Ее можно точн-настроить для увеличенной точности путем использование Приспособительной Характеризации Образца (ASC).

Omnian поддержано сетью PANalytical всемирной специалистов по поддержки и обслуживания. Для больше информации, посещение www.panalytical.com/omnian

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit