Posted in | Nanoanalysis

PANalytical 生成新的 Standardless 分析程序包在 PITTCON 2009年

PITTCON 2009年 (3月 8-13,芝加哥,美国) 将看到 PANalytical 的新的 standardless 分析程序包, Omnian 生成。 此最新的模块在公司的证明的 SuperQ 软件套件被设计使用与 Axios 连续 X-射线荧光 (XRF)分光仪。

Omnian 解决您的分析挑战

Omnian 为对未知的范例的描述特性和分析提供理想的答复,或者在被确认的标准符合特定范例特性不是可用的情形。

Omnian 可能处理各种各样的范例类型例如固体、粉饼、被熔化的小珠、松散粉末和液体。 这个软件根据用户经验或期望操作模式是能适应的。 其解决问题的功率它处理分析挑战包括范例量化、审查和故障分析,以及不同的材料比较。

设置 Omnian 成为在这些重要应用的新的基准。 它被设计提供在默认值 ` 黑匣子的快速,可靠的量化’模式。 然而,收集的这个数据全面,并且可以更加广泛地被复核。

这个系统对范例和矩阵作用以及范例厚度、数量和 ` 黑暗矩阵’构成自动地调整。 通过使用可适应的范例描述特性,它可以为增加的准确性优化 (ASC)。

Omnian 通过支持和服务专家 PANalytical 的全世界网络支持。 对于更多信息,访问 www.panalytical.com/omnian

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit