PANalytical 加强其名誉在完全解决方法上在 ACHEMA

主导的分析 X-射线公司 PANalytical (阿尔默洛,荷兰) 将加强其名誉在完全解决方法上在今年 ACHEMA 会议和陈列 (2009年 5月 11日 - 15日; 法兰克福,德国)。

大厅的 6.3,摊 J21-K23 访客,将体验陈列 XRF 分光仪的 Axios 范围创新三维交互选择产品模拟。 Omnian,未知的范例的迅速量化的 PANalytical 的新的 standardless XRF 分析程序包,做其欧洲陈列首演,并且这家公司也以其灵活,有效有特殊用途的 MiniPal 系统之一为特色。 手段、软件和标准组件将展示元素分析的完全解决方法在水泥、开采,金属,配药,化工,塑料和石油工业。

各种各样的 PANalytical XRD 硬件和软件也在显示。 应用一样不同象配药和 nanomaterials, X'Pert 赞成多用途 X-射线衍射计将以为特色。 访客能为所有光学要素迅速替换测试 PANalytical 的唯一称谓系统,不用对重新排列的需要。 X'Pert 赞成系统允许几何的一个不匹配范围,从传统 Bragg-Brentano 到与革命 PIXcel 探测器的一个超速的传输高处理量系统。 它可能也适应 SAXS 设置。 例如灵活的 XRD 软件包括阶段分析、重点和薄膜分析,高端群分析和小角度分散。

PANalytical 专家在手边将将展示公司的分析 X-射线解决方法,并且讨论您的特定应用挑战。

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