Agilent 技术介绍下一代基本强制显微镜

Agilent Technologies Inc. (NYSE : A) 今天宣布了可能在这个实验室和这间 (AFM)教室擅长一个下一代基本强制显微镜的可用性。 新的 Agilent 5420 AFM,根据 Agilent 的普遍 5400 平台,是被重新建造提供更加低噪声,更好的性能和更加极大的通用性的一台高精密度的仪器。

“新的人体工程的设计、更加低噪声的电子和被改进的视觉光学是在做 5420 一强大的关键功能中,为各种各样的材料学的易用工具,聚合物,电子描述特性和通用表面描述特性应用”,说杰夫琼斯, Agilent 的 AFM 设备的操作管理员在杂货商,亚利桑那 “此科学级别 AFM 提供基本缩放比例解决方法以一个非常竞争价格,以及提供一个简单的升级路径”。

Agilent 5420 提供教育家一个例外机会介绍他们的学员给许多有用的 AFM 技术; 显微镜将传送与一门大学生路线课程和范例教的实验室的。 几个提高成绩的选项为 5420 是可用的,包括开放环路和闭环 X - Y & Z 90 微米扫描程序、一个 9 微米开放环路的扫描程序和一个 10 微米 STM 扫描程序,中的每一个设计提供对探测位置的最优控制。

对于在液体的高分辨率想象, Agilent 的给予专利的 MAC 模式是可用的。 精确度热量控制可以被添加。 Agilent 5420 也是与 MAC 模式 III 兼容,提供三个用户可配置封锁行动放大器买得起实际上不可限量的应用可能性、史无前例的速度和这个能力使用悬臂的更高的共鸣模式。

5420 的另一个选项是电子单遍显微学模式,启用高分辨率 KFM/EFM 和 PFM 的一个新的低噪声技术。 此模式允许用户自定义在 MAC 模式 III 封锁行动放大器之间的信号运输路线,提供更加先进的多频的扫描。

5420 也是与 Agilent 的唯一扫描微波显微学 (SMM)模式,兼容结合这种化合物,微波向量网络分析仪的被校准的电子评定功能与一个基本强制显微镜的 nanoscale 空间分辨率的。 SMM 模式胜过传统基于 AFM 的浏览的电容显微学技术、提供的更加极大的应用通用性、这个能力获取定量结果和在这个行业的最高的区分和力学范围。

Agilent 的新 5420 AFM 以现场以证实的基本强制显微镜 Agilent 的整个线路和软件为特色使用的同样科技目前进步水平扫描程序、管理员。 普遍的 Agilent AFM 系统包括复杂的 Agilent 5500,提供领先业界的环境控制,以及多才多艺的 Agilent 5600LS,启用在一充分地可寻址的大和小的范例 AFM 想象,高度可编程序的 200mm 阶段。

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