Agilent 技術介紹下一代基本強制顯微鏡

Agilent Technologies Inc. (NYSE : A) 今天宣佈了可能在這個實驗室和這間 (AFM)教室擅長一個下一代基本強制顯微鏡的可用性。 新的 Agilent 5420 AFM,根據 Agilent 的普遍 5400 平臺,是被重新建造提供更加低噪聲,更好的性能和更加極大的通用性的一臺高精密度的儀器。

「新的人體工程的設計、更加低噪聲的電子和被改進的視覺光學是在做 5420 一強大的關鍵功能中,為各種各樣的材料學的易用工具,聚合物,電子描述特性和通用表面描述特性應用」,說傑夫瓊斯, Agilent 的 AFM 設備的操作管理員在雜貨商,亞利桑那 「此科學級別 AFM 提供基本縮放比例解決方法以一個非常競爭價格,以及提供一個簡單的升級路徑」。

Agilent 5420 提供教育家一個例外機會介紹他們的學員給許多有用的 AFM 技術; 顯微鏡將傳送與一門大學生路線課程和範例教的實驗室的。 幾個提高成績的選項為 5420 是可用的,包括開放環路和閉環 X - Y & Z 90 微米掃描程序、一個 9 微米開放環路的掃描程序和一個 10 微米 STM 掃描程序,中的每一個設計提供對探測位置的最優控制。

對於在液體的高分辨率想像, Agilent 的給予專利的 MAC 模式是可用的。 精確度熱量控制可以被添加。 Agilent 5420 也是與 MAC 模式 III 兼容,提供三個用戶可配置封鎖行動放大器買得起實際上不可限量的應用可能性、史無前例的速度和這個能力使用懸臂的更高的共鳴模式。

5420 的另一個選項是電子單遍顯微學模式,啟用高分辨率 KFM/EFM 和 PFM 的一個新的低噪聲技術。 此模式允許用戶自定義在 MAC 模式 III 封鎖行動放大器之間的信號運輸路線,提供更加先進的多頻的掃描。

5420 也是與 Agilent 的唯一掃描微波顯微學 (SMM)模式,兼容結合這種化合物,微波向量網絡分析儀的被校準的電子評定功能與一個基本強制顯微鏡的 nanoscale 空間分辨率的。 SMM 模式勝過傳統基於 AFM 的瀏覽的電容顯微學技術、提供的更加極大的應用通用性、這個能力獲取定量結果和在這個行業的最高的區分和力學範圍。

Agilent 的新 5420 AFM 以現場以證實的基本強制顯微鏡 Agilent 的整個線路和軟件為特色使用的同樣科技目前進步水平掃描程序、管理員。 普遍的 Agilent AFM 系統包括複雜的 Agilent 5500,提供領先業界的環境控制,以及多才多藝的 Agilent 5600LS,啟用在一充分地可尋址的大和小的範例 AFM 想像,高度可編程序的 200mm 階段。

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