JPK 儀器宣佈其 NanoWizard 產品線的新的輔助部件

JPK 儀器, nanoanalytic 手段世界領先的製造商研究的在生命科學和軟的問題,高興地宣佈其 NanoWizard® 產品線的新的輔助部件。

NanoWizard AFM 系列的 JPK 的新的導電性 AFM 模塊

JPK 的 NanoWizard® II AFM 映射局部傳導性的新的導電性 AFM 模塊更改。 運行在聯絡,斷斷續續的聯絡和分光學模式,應用在聚合物、有機半導體、 nanotubes 和 nanoparticles 包括映射的充電。

導電性 AFM (CAFM),記錄當前流在一個電子導電性懸臂之間 (典型地 Pt/Ir 或 Cr/Pt) 和基體,當偏心是應用的在技巧和範例之間時。 JPK 的新的導電性 AFM 輔助部件附有直接地 NanoWizard 題頭的基礎。 一個超靈敏的前置放大器啟用子 picoamp 當前的檢測。 偏壓是軟件選擇與範圍 +/- 10 伏特。 傳導性映射在聯絡和斷斷續續的聯繫模式可以被執行,在四周或無氧的情況下,同時顯示表面地勢圖像。 強大的分光學軟件允許在當前上的變化被跟蹤作為潛在是狂跳亂撞在用戶定義的地點。 這指當前電壓 (I/V) 分光學。

範例持有人供應了以 NanoWizard® II CAFM 模塊支持金屬殘餘部分、載玻片和蓋子清單。 一個單獨持有人為光學上透明範例使用啟用熒光的同時評定。 一個彈簧支撐電極引導偏壓對範例表面。 或者,可以使用導電性亮漆。 範例在 HOPG 可能也準備,并且其他電子導電性平面的範例例如銦裝罐氧化物 (ITO)。 應用包括金屬、半導體、聚合物、 ferroelectrics、電介質和有機導體。

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