S/TEM Rápido, Fácil de usar Aumenta Dramáticamente Productividad en Aplicaciones de la Fabricación del Semiconductor

Compañía de FEI (Nasdaq: FEIC), un proveedor de cabeza de los sistemas de la proyección de imagen y de análisis de la atómico-escala, anunció hoy el desbloquear de la exploración/del microscopio electrónico de la transmisión (S/TEM) de Tecnai Osiris (TM), entregando velocidad y funcionamiento analíticos revolucionarios. Incluye la nueva tecnología de ChemiSTEM de FEI, que reduce la época para la correspondencia elemental del campo visual grande a partir de horas a los minutos. El Tecnai Osiris se diseña para combinar esta producción analítica del descubrimiento con facilidad de empleo excepcional para cumplir los requisitos para los laboratorios de investigación industriales y multiusos en grandes cantidades.

La tecnología patente-pendiente de ChemiSTEM permite al Tecnai Osiris lograr un factor de 50 o más aumentos en la velocidad de la correspondencia elemental dispersiva de la radiografía de la energía (EDX), combinando avances técnicos en la generación del haz con los cambios disruptivos en la detección de señal de EDX. El Tecnai Osiris se emplea una plataforma diseñada para maximizar productividad y la rentabilidad de la inversión en análisis en grandes cantidades.

Tony Edwards, el vicepresidente de FEI de las divisiones del mercado, agrega, “El Tecnai Osiris dirige las necesidades de nuestra investigación y de los clientes industriales que ponen importancia cada vez mayor en análisis elemental de la composición y la correspondencia de todas las muestras, pero hasta ahora, no podría encontrar un S/TEM con la velocidad y la facilidad de empleo analíticas requeridas para utilizar este requisito. Por ejemplo, la disminución que continúa de tamaños del dispositivo y la proliferación de nuevos materiales en la fabricación del semiconductor, y el aspecto de más muestras con la composición desconocida en centros de investigación multiusos impulsa la necesidad de un S/TEM que provee de la facilidad de empleo del analytics de EDX una velocidad de correspondencia elemental comparable a la proyección de imagen del VÁSTAGO.”

Edwards agrega, “El Tecnai Osiris fue diseñado para llenar esta separación actual en el mercado proveyendo de la correspondencia elemental campo-de-vista grande en minutos en vez de horas, y sin la necesidad de un operador entrenó altamente en analytics complejo. Esta facilidad de empleo es ampliada más a fondo por el nuevo interfaz teledirigido de SmartCam, que permite a expertos proporcionar a la dirección alejada en recursos multiusos o industriales a los operadores menos experimentados.”

La línea de Tecnai tiene una larga historia del funcionamiento y confiabilidad como herramienta del caballo de labranza en aplicaciones industriales. El Tecnai Osiris, 200 kilovoltios (kV) S/TEM, continúa la tradición de Tecnai con la adición de las innovaciones técnicas numerosas, incluyendo: ChemiSTEM, que comprende la fuente propietaria del electrón de la alta brillantez de X-FEG y Estupendo-x, el nuevo sistema de detección del EDX de FEI basó en tecnología del Detector de la Desviación (SDD) del Silicio; Manipulación de la muestra de MultiLoader (TM) que reduce tiempo térmico del equilibrio después de que la muestra intercambie por diez veces por mejorías proporcionales en tiempo-a-datos; y el nuevo espectrómetro de la pérdida de energía de electrón FS-1 que mejora velocidad y sensibilidad de la espectrometría (EELS) de la pérdida de energía de electrón; así como otros aumentos, tales como la cámara teledirigida de SmartCam, la fuente duradera del nitrógeno líquido, y más.

“Cuando la velocidad, la producción y la facilidad de empleo analíticas revolucionarias en un S/TEM seguro, de uso múltiple son críticas, el Tecnai Osiris es la solución ideal,” los estados Edwards.

El Tecnai Osiris S/TEM está disponible para ordenar inmediatamente. Para más información, visite por favor: www.fei.com.

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