Detectando Más Nanoparticles y la Aceleración de la Adquisición por una Cantidad Masiva

El mercado de los Instrumentos de Oxford que lleva el sistema de análisis automatizado de la característica y de la partícula está disponible ahora con la nueva dotación física INCAmicsF+ de la adquisición de la imagen para incluso de adquisición de datos más rápido y más exacto.

INCAmicsF+ incluye nueva tecnología de Microprocesador Rápida (FRM) de la Reacción para detectar partículas más pequeñas por lo menos 3x más rápidamente. Combinado con el detector X-Máximo revolucionario de la desviación del silicio de la área extensa, el análisis de característica se puede ahora hacer en una parte de la hora. Los tiempos del Muestreo se pueden ahora medir en minutos bastante que horas.

“Automatizó la detección de la característica y el análisis en SEM es una técnica importante en muchas áreas de aplicación incluyendo GSR, las partículas extrañas de acero, los motores de vehículo, los accionamientos de disco y control del medio ambiente,” dice a James Holanda, Gerente de las Aplicaciones en los Instrumentos NanoAnalysis de Oxford. “Usando FeatureMax hemos podido detectar más nano-partículas y acelerar la adquisición por una cantidad masiva. Estos avances en exactitud y productividad ofrecerán grandes ventajas en todas estas aplicaciones y más.”

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