CRAIC の技術は QDI を 2010 の PV のマイクロ・スペクトル光度計導入します

CRAIC の技術、一流の製造業者および紫外線目に見えるNIR 顕微鏡の microspectrometers は、 2010 の PV のマイクロ・スペクトル光度計 QDI を発表するために喜びます。 QDI は 2010 の PV の器械従来の結晶のケイ素であるかどうか超のような光電池の伝達そして反射率、薄膜の変化の 1 かコンポーネント測定するようにおよび基板設計されています。 保護ガラスおよびコンセントレイタのモジュールは分析することができます。 QDI はまた 2010 の PV ユーザーが透過および不透明な基板の顕微鏡の試し領域の薄膜の厚さを定めることを可能にします。 この強力なツールはまた他の機能の多くを備えています。 それは CRAIC の技術の専有汚染イメージ投射機能とプロセス汚染物を見つけ、識別するために結合することができます。 したがって、 QDI は光起電企業に使用できる度量衡学の器械使用で 2010 の PV 主要な一歩前進を表します。

「私達の顧客の多数は彼らの製品の急速な品質管理のために光起電装置の品質をテストしたいと思います。 QDI は言うポール・マーティン大統領、先生を多くの異なった光起電装置のいくつかの違った見方を」テストできる強力で、適用範囲が広い度量衡学のツールのための顧客の要求に応じて 2010 の PV のマイクロ・スペクトル光度計構築されました。

完全な QDI 2010 の PV の解決のコンバインは洗練されたソフトウェアと microspectroscopy ユーザーが透過率、反射力および冷光を測定することを可能にするために進みました。 それはまた多くのタイプの材料および基板の伝達か反射率によって薄膜の厚さを定められます。 またコンセントレイタのような PV のセルを製造することを使用されるコンポーネントの多数からの透過率そして反射力を測定するのに使用することができます。 CRAIC の技術の柔軟性が原因で設計しま、領域を 100 ミクロンにから及ぶことができますミクロンよりより少なく見本抽出します。 生産環境のために設計されていて、それはいくつかの容易に修正された度量衡学の調理法、データを分析するための新しいフィルムおよび材料、また複雑にされたツール測定する機能を組み込みます。 汚染の分析のような他の機能はこの器械に容易に追加されます。

QDI についてのより多くの情報のため 2010 の PV のマイクロ・スペクトル光度計およびアプリケーションの訪問 www.microspectra.com。

CRAIC Technologies、 Inc. は紫外、目に見えるおよびほぼ赤外線領域で全体的な技術のリーダーによって集中される microimaging そして microspectroscopy です。 CRAIC の技術はカスタマ・サポートで最もよいのと私達の顧客を聞き、操作上の卓越性および技術の専門知識を統合する解決を実行することによって革新的な解決を、作成します。 CRAIC の技術は法医科学、健康科学、半導体、地質学、ナノテクノロジーおよびアプリケーションがカスタマ・サポートの正確さ、精密、速度およびベストを要求する物質科学の市場の顧客に解決を提供します。

2009 年 10 月 31 日に掲示される

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