CRAIC 技术介绍 QDI 2010 PV 显微分光光度计

CRAIC 技术,紫外可视NIR 显微镜主导的制造商和 microspectrometers,高兴地宣布 QDI 2010 PV 显微分光光度计。 QDI 2010 PV 仪器被设计评定传输和反射率光电池他们是否是传统水晶硅,一个薄膜种类或这样要素象超和基体。 可以分析防护玻璃和集中器模块。 QDI 2010 PV 也使这个用户确定微观抽样的区的薄膜厚度在透明和不透明的基体的。 此强大的工具也有许多其他功能。 它可以结合以 CRAIC 技术所有权污秽想象功能找出和识别处理污染物。 同样地, QDI 2010 PV 在计量学手段表示一个主要进步可用对这个光致电压的行业。

“许多我们的客户要为他们的产品迅速质量管理测试光致电压的设备的质量。 QDI 2010 PV 显微分光光度计被编译了以回应客户要求可能测试许多不同的光致电压的设备的一定数量的不同方面”说保罗・马丁,总统博士的一个强大,灵活的计量学工具。

完全 QDI 2010 PV 解决方法联合收获机提前 microspectroscopy 以复杂的软件使这个用户评定透射率、反射性和发光学。 也能由传输或反射率材料和基体的许多类型确定薄膜厚度。 它可能也用于评定透射率和反射性从用于的许多要素制造 PV 细胞例如集中器。 由于 CRAIC 技术的灵活性比一微米请设计,抽样区能从 100 微米范围。 设计为生产环境,它合并一定数量容易地被修改的计量学处方,这个能力评定新的影片和材料以及复杂的工具为分析数据。 其他功能例如污秽分析容易地被添加到此仪器。

关于 QDI 的更多信息 2010 PV 显微分光光度计和其应用,访问 www.microspectra.com。

CRAIC Technologies, Inc. 是一全球技术领导先锋集中的 microimaging 和 microspectroscopy 在紫外,可视和近红外地区。 CRAIC 技术用最佳创建创新解决方法,在客户支持,通过听我们的客户和实施集成杰出运营和技术专门技术的解决方法。 CRAIC 技术为客户在法医学、健康科学、半导体、地质、纳米技术和应用需求准确性、精确度、速度和最好在客户支持的材料学市场上提供解决方法。

张贴在 2009年 10月 31日,

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