CRAIC 技術介紹 QDI 2010 PV 顯微分光光度計

CRAIC 技術,紫外可視NIR 顯微鏡主導的製造商和 microspectrometers,高興地宣佈 QDI 2010 PV 顯微分光光度計。 QDI 2010 PV 儀器被設計評定傳輸和反射率光電池他們是否是傳統水晶硅,一个薄膜種類或這樣要素像超和基體。 可以分析防護玻璃和集中器模塊。 QDI 2010 PV 也使這個用戶確定微觀抽樣的區的薄膜厚度在透明和不透明的基體的。 此強大的工具也有許多其他功能。 它可以結合以 CRAIC 技術所有權汙穢想像功能找出和識別處理汙染物。 同樣地, QDI 2010 PV 在計量學手段表示一個主要進步可用對這個光致電壓的行業。

「許多我們的客戶要為他們的產品迅速質量管理測試光致電壓的設備的質量。 QDI 2010 PV 顯微分光光度計被編譯了以回應客戶要求可能測試許多不同的光致電壓的設備的一定數量的不同方面」說保羅・馬丁,總統博士的一個強大,靈活的計量學工具。

完全 QDI 2010 PV 解決方法聯合收穫機提前 microspectroscopy 以複雜的軟件使這個用戶評定透射率、反射性和發光學。 也能由傳輸或反射率材料和基體的許多類型確定薄膜厚度。 它可能也用於評定透射率和反射性從用於的許多要素製造 PV 細胞例如集中器。 由於 CRAIC 技術的靈活性比一微米请設計,抽樣區能從 100 微米範圍。 設計為生產環境,它合併一定數量容易地被修改的計量學處方,這個能力評定新的影片和材料以及複雜的工具為分析數據。 其他功能例如汙穢分析容易地被添加到此儀器。

關於 QDI 的更多信息 2010 PV 顯微分光光度計和其應用,訪問 www.microspectra.com。

CRAIC Technologies, Inc. 是一全球技術領導先鋒集中的 microimaging 和 microspectroscopy 在紫外,可視和近紅外地區。 CRAIC 技術用最佳創建創新解決方法,在客戶支持,通過聽我們的客戶和實施集成傑出運營和技術專門技術的解決方法。 CRAIC 技術為客戶在法醫學、健康科學、半導體、地質、納米技術和應用需求準確性、精確度、速度和最好在客戶支持的材料學市場上提供解決方法。

張貼在 2009年 10月 31日,

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