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Firma Erwirbt Phenom-Produktlinie FEIS

FEI-Firma (Nasdaq: FEIC), das dieser Phenom-Welt, einer Tochtergesellschaft in Mehrheitsbesitz von NTS-Gruppe B.V. (NTS) angekündigt wird von Eindhoven, die Niederlande, hat Produktlinie Phenom FEIS (TM) erworben. NTS ist Herstellungspartner FEIS gewesen und wurde nah in die Entwicklung des innovativen TischplattenRasterelektronenmikroskops miteinbezogen, bevor es im Jahre 2007 eingeführt wurde. NTS fährt fort, das Produkt herzustellen, und Phenom-Welt übernimmt Verantwortung für des Produktes vermarkten, Verkäufe und Verteilung weltweit sowie Service- und Garantiereparaturen für die eingebaute Basis.

FEI behält eine Minderheit in Position bringen in Phenom-Welt und werden beibehalten bestimmtes in Verbindung stehendes geistiges Eigentum bei. FEI erwartet, dass diese Transaktion eine minimale Auswirkung auf sein 2009 viertes Quartalsergebnis hat und eine bescheidene positive Auswirkung im Jahre 2010 hat. Ausdrücke der Transaktion wurden nicht bekannt gemacht.

„Diese Transaktion ist mit unserer Abteilungsstrategie des Konzentrierens auf Dienstleistungslösungen für spezifische Industrien in Einklang und Gruppen Abnehmer wie Naturressourcen,“ sagte Paul Scagnetti, Vizepräsident und Generaldirektor von der Industrie-Marktabteilung FEIS. „Da wir fortfahren, einzelne Anwendungen zu entwickeln, sind wir in der Lage, Phenoms von der Phenom-Welt zu kaufen, wenn es für unseren Abnehmerbedarf angebracht ist. NTS kombiniert seine Herstellungs- und Technikstärken mit Marketing und Verteilung des Produktes.“

FEI (Nasdaq: FEIC) ist eine führende variierte Firma der wissenschaftlichen Instrumente. Es ist ein erster Anbieter des Elektrons und der Ionenbündelmikroskope und der -hilfsmittel für nanoscale Anwendungen über vielen Industrien: industrielle und akademische Materialforschung, Biowissenschaften, Halbleiter, Datenspeicher, Naturressourcen und mehr. Mit einer 60-jährigen Geschichte der technologischen Innovation und der Führung, hat FEI den Ausführungsstandard in den Durchstrahlungselektronenmikroskop-, (TEM) Scannenelektronenmikroskopen und (SEM) in DualBeams (TM) eingestellt, die SEM mit einem fokussierten Ionenträger kombinieren (FIB). Darstellungsanlagen FEIS versehen Kennzeichnung 3D, Analyse und Modifikation/Erstausführung mit Auflösungen unten zur UnterÅngström (Zehntel eines nm) Stufe. NanoPorts FEIS in Nordamerika, Europa und Asien liefern Mitten der technischen hervorragender Leistung, in der seine Weltklassen- Gemeinschaft von Abnehmern und Spezialisten zusammenarbeiten. FEI hat ungefähr 1800 Angestellte und Verkäufe und Service-Operationen in mehr als 50 Ländern auf der ganzen Welt. Mehr Informationen können an gefunden werden: www.fei.com.

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