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批次突壁窗宣布新的 J 的可用性 Woollam T 太阳 Ellipsometer

批次突壁窗骄傲地宣布新的 J 的可用性 Woollam T-Solar™ - 优化的 Ellipsometer 评定大范围光致电压的薄膜。

T-Solar™ ellipsometer 结合最佳的光致电压的评定技术到为织地不很细范例特别地设计的一个唯一系统。

凭被设立的 M-2000® 转动的补偿器分光镜 ellipsometer, T 太阳评定数百在紫外可视NIR 间的波长。

要改进在极大减少的概略,织地不很细表面的性能反射了信号, T 太阳联合收获机与我们新的强度优化程序的一个特殊高强度闪亮指示来源。

T 太阳对分析在被铭刻的硅表面的 AR 涂层是理想的。 另外,它以一可调整的 tilt-rotation-stage* 为特色,要求对齐碱性被铭刻的单晶质的表面金字塔结构。

PV 应用:

  • 织地不很细单音和 Multicrystalline 基体
  • AR 涂层 (SiNx, AlNx…)
  • 透明导电性氧化物
    • ITO
    • ZnOx
    • 被掺杂的 SnO2
    • AZO
  • Si, µc Si,多 Si
  • CdTe, CdS,香烟
  • 有机 PV 材料
  • 染料使敏感的影片

对于更多信息请去 http://www.lot-oriel.com/ 或请与在 01372 378822 的荒地年轻人,电子邮件 [email protected] 联系

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