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과학 HORIBA는 자동 SE의 괴기한 범위를 넓힙니다

과학 HORIBA는 계기가 가까운 적외선에 있는 자동 SE의 괴기한 범위를, 지금 440 커버 상태에서에서 1000 nm까지 파장 범위 넓혔습니다. 강화한 성과는 그것에게 광전지, 반도체, 편평한 패널 디스플레이 및 광전자 공학 박막 응용의 자동적인 특성을 위한 이상을 만듭니다.

자동 SE

자동 SE는 간단한 누름단추식 전쟁 작동을 제공해 견본 분석을 잠시동안만 허용하. 완전한 보고는 자동적으로 생성되고, 이것은 필름 간격, R.i. 또는 광학적인 불변의 것, 표면 거칠기 및 감극을 포함합니다.

자동 SE는 MyAutoView 비전 시스템을 가진 측정 사이트의 자동적인 XYZ 단계, 실시간 화상 진찰 및 통합 microspot 광학을 포함하는 높게 특색지어진 계기입니다. 이 마지막 2개의 특징의 조합은 정확한 박막 도량형학과 nanostructured 모방한 견본의 특성에 대하 이상적입니다. 많은 부속품은 생물공학에서 광전지에 큰 채용 범위를 적응시키게 유효합니다.

자동 SE는 수리를 위한 포괄적인 통신수 지도에 대한 문제의 자동적인 탐지 그리고 진단을 위한 붙박이 진단 표시기를, 포함합니다.

2개의 상이 2008년에 수여된 상태에서, 자동 SE는 일상적인 박막 측정 및 장치 품질 관리를 위한 턴키 계기 이상입니다.

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