Ny Teknik som Avkänner och som Kvantifierar Segregeringar för KornGräns genom Att Använda WDS

Forskare på Universitetar av Nantes (Frankrike) har nyutvecklat en ny teknik som avkänner och som kvantifierar segregeringar för korngränsen som använder den dispersive våglängden, Röntgar spektroskopin (WDS).

Instrumenterabasen för utvecklingen av den nya tekniken är MERLIN®EN Sätter In Mikroskopet för UtsläppScanningElektronen från Carl Zeiss som utrustas med en Oxford WDS spectrometer. Experiment utfördes på den Laboratoire Génie desen Matériaux et Procédés Associés Polytech Nantes (LGMPA).

Det huvudsakliga kännetecken av MERLINEN FE-SEM som möjliggör denna nya teknik, är kicksondströmmen, av upp till nA 300. I experiment var det även möjligheten som fungerar systemet på nA 400. Endast genom att applicera en sådan kicksondström kunna tillräckligt att signalera, är upphetsad. Tack vare minimeras den dubbla kondensatorlinsen av kolonnen för GEMINI® II inom MERLINEN, stråladiametern till ytterligheten och att resultera i rumslig upplösning för kicken av WDS-analysen.

Applikationbakgrund

Mellan två ytor segregeringar kan leda till en dramatisk ändring av materialrekvisita, e.g stryker förnicklar förkopprar förlust i medgörlighet av, eller legerar. Till nu ytbehandlar karakteriseringen av bästa lagrar bearbetas allmänt med Spektroskopi för AvfallsspiralElektron eller ElektronSondMikroAnalys. Båda tekniker har flera nackdelar, e.g dammsuger behovet för ultra-kick villkorar eller begränsningar i rumslig upplösning. Dessa nackdelar är betagna vid tekniken som framkallas på LGMPAEN, Nantes.

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit