Scienze biologiche AFM dei Lanci NanoWizard3 degli Strumenti di JPK a MicroScience 2010

Gli Strumenti di JPK, un produttore di livello mondiale di strumentazione nanoanalytic per la ricerca nelle scienze biologiche e materia molle, è soddisfatto per selezionare MicroScience 2010 annunciare il lancio della loro terza generazione, il sistema dedicato di BioAFM, NanoWizard®3 le Scienze biologiche AFM.

Scienze Biologiche AFM di JPK NanoWizard®3 Con Zeiss AxioObserver RX

Lo Sviluppo delle relazioni con la comunità e la collaborazione di SPM con gli utenti mondiali ha permesso a JPK di mettere a punto i sistemi potenti e flessibili. L'Espandibilità garantisce che un investimento sicuro per gli utenti e un gruppo internazionale degli scienziati e dei rivelatori con esperienza cattura la cura di servizio e di supporto.

La memoria di nuovo sistema è HyperDrive™, una tecnica di rappresentazione fluida di SuperResolution™ AFM. Con estremamente - le interazioni basse del suggerimento-campione, campioni non sono danneggiate mai. È disponibile con la testa di NanoWizard® 3 AFM e la nuova larghezza di banda di Vortis™ alta, elettronica di controllo a basso rumore. Il sistema è estremamente stabile andare alla deriva ed ha la capacità di individuare le più piccole deformazioni a mensola permettendo ad alcune delle immagini più sbalorditive prodotte mai in un sistema commerciale.

La progettazione di sistema di Scienze biologiche NanoWizard®3 fornisce il più alta prestazione del AFM in liquidi ed aria, integrati microscopia ottica. Viene con accesso fisico ed ottico eccezionale al campione dalla parte anteriore e dal lato, anche quando la testa ed il condensatore esistono. La testa di suggerimento-scansione fornita di scanner di flessione dà il più alta flessibilità per una grande varietà di campioni differenti.

DirectOverlay™ ha fissato lo standard per il modo AFM e la microscopia ottica dovrebbe combinarsi per fornire informazioni complementari dal campione. Ulteriormente, le tecniche quale la epi-fluorescenza, la microscopia di scansione confocale del laser, TIRF, il CERCHIO, il FCS, FLIM, FRAP, INFURIANO, PALMA, STED, disco di filatura, Ecc., comprensione di elasticità circa il comportamento o posizione delle funzionalità particolari del campione. Ora è possibile combinare le misure della rappresentazione E della forza del AFM con questi metodi ottici sullo stesso punto allo stesso tempo su una base sistematica.

I modi capi e nuovi Del AFM avanzato del software aumentano il livello delle misure della spettroscopia della forza con NanoWizard®3. La forza RampDesigner™ può essere usata per creare le curve su ordinazione della forza mentre l'interi esperimento ed ambiente possono essere controllati attraverso l'interfaccia di ExperimentPlanner™. Ciò permette la mappatura conveniente e su misura della forza ed esperimenti della rampa/morsetto della forza.

JPK sviluppa, costruisce e fabbrica la strumentazione in Germania agli standard mondo-riconosciuti di meccanica di precisione, di qualità e di funzionalità Tedesche. La società ha una filosofia semplice. Mentre il CTO, Torsten Jähnke, dice - “abbiamo progettato sempre la nostra strumentazione dopo in primo luogo avere ascoltato gli utenti e le loro sfide. Consegnando le riuscite risposte per noi mezzi nessun compromessi fra impiego possibile e trattando da un lato e rendimento elevato dall'altro lato.„

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