JPK 儀器在 MicroScience 的生成 NanoWizard3 生物科學 AFM 2010年

JPK 儀器, nanoanalytic 手段世界領先的製造商研究的在生命科學和軟的問題,高興地選擇 MicroScience 2010年宣佈他們的第三代,專用的 BioAFM 系統, NanoWizard®3 生物科學 AFM 生成。

與蔡司 AxioObserver RX 的 JPK NanoWizard®3 生物科學 AFM

建立與 SPM 社區和合作的關係與全世界的用戶使 JPK 開發強大和靈活的系統。 提高能力保證用戶和有經驗的科學家和開發員一個國際小組的一次安全的投資照料服務與支持。

新的系統的核心是 HyperDrive™, SuperResolution™ AFM 可變的成像技術。 極低的技巧範例交往,從未損壞範例。 它對 NanoWizard® 3 AFM 題頭和新的 Vortis™高帶寬,低噪聲控制電子學是可用的。 這個系統是極穩定的漂移并且有這個能力檢測最小的懸臂式偏折啟用在一個商業系統導致的某些最驚人的圖像。

NanoWizard®3 生物科學系統設計提供在液體和航空的最高的 AFM 性能,集成以光學顯微學。 既使當題頭和冷凝器到位,它來自與對這個範例的未清實際和光學存取前線和端。 技巧掃描題頭裝備彎曲掃描程序產生不同的範例一個大種類的最高的靈活性。

DirectOverlay™規定這個方式的 AFM 標準,并且應該結合光學顯微學從這個範例的補充情報。 另外,技術例如 epi 熒光,共焦的激光掃描顯微鏡, TIRF,苦惱, FCS, FLIM,拉緊,猛衝,掌上型計算機、 STED、空轉的光盤等等,給予關於特殊範例功能的工作情況或地點的洞察力。 與在同一個地點的這些光學方法同時結合 AFM 想像和強制評定定期地現在是可能的。

先進的 AFM 題頭和新的軟件模式提高強制與 NanoWizard®3. 的分光學評定標準。 當全部的實驗和環境可以是受控的通過 ExperimentPlanner™界面時,強制 RampDesigner™可以使用創建自定義強制曲線。 這允許方便和自定義的強制映射和強制舷梯/鉗位實驗。

JPK 開發,設計并且製造手段在德國對德國精確工程、質量和功能世界被識別的標準。 這家公司有簡單的哲學。 當 CTO,托爾斯滕 Jähnke,說 - 「我們在首先聽總是設計了我們的手段用戶和他們的挑戰以後。 提供我們的成功的答復平均值在可用性之間的沒有妥協和處理在一個端和在另一個端的高性能」。

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