Увеличенное Разрешение в Низкой Зоне kv с Новой Технологией Источника Электрона

Сегодня, Карл Zeiss вводит EVO® HD, свое самое последнее рационализаторство в обычном сегменте рынка Электронной Микроскопии Скеннирования (C-SEM). Поставляющ гораздо высокее разрешение на низких напряжениях тока ускорения сравненных к присутствующим обычным SEM, EVO® HD вводит Высокое Определение к электронной микроскопии.

Маштаб крыла бабочки (Pieris Brassicae) принятый на новый электронный кинескоп EVO®HD на напряжении тока ускорения 5kV. Сочетание из яркость источника groundbreaking высокая EVO® HD и увеличенной чувствительности низк-kV детектора позволяет для больше проницательности в такие непровоящие биологические nano-структуры. Nano-Текстуры связанные с биологическими структурами привлекали значительное внимание не как раз в Зоологии, но также в Материальной Науке, био-передразнивании и nano-Инджиниринге.

Технологическая основа для этого достижения новый источник EVO® HD который отличает более высокой яркостью источника. Эта яркость приводит к в улучшении в разрешении на низк-kV по отношению к обычному вольфраму SEMs. Улучшенные свойства источника также помогают аналитически применениям с увеличением 30% в разрешении на 30kV и 1nA.

«Мы убежены что это значительно рационализаторство в рынке для обычных SEM в последней декаде. Многочисленние применения в обоих науках о жизни и анализах материалов будут извлекали пользу увеличенное представление», объясняют Невесту Allister Mc от разделения Систем Технологии Карл Zeiss Nano на Кембридже.

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit