改進的解決方法在與新的電子來源技術的低 kv 地區

今天,卡爾蔡司介紹 EVO® HD,其在常規掃描電子顯微鏡術 (C-SEM) 市場細分的最新的創新。 傳送更加高分辨率在低加速度電壓與當前常規 SEM 比較, EVO® HD 引入高定義給電子顯微鏡術。

在新的 EVO®HD 電子顯微鏡蝴蝶翼 (皮利斯 Brassicae) 採取的縮放比例在 5kV 加速度電壓。 EVO® HD 和改進的低 kV 的開創性高來源亮光的組合區分這臺探測器允許更多答案到這樣绝緣的生物納諾結構。 納諾紋理與生物結構相關受到了嚴重的關注不僅僅在動物學方面,而且在材料學、生物模仿和納諾工程。

為此成績的技術基本類型是以更高的來源亮光為特色的新的 EVO® HD 來源。 此亮光導致在解決方法的改善在低 kV 相對常規鎢 SEMs。 改進的來源屬性也幫助與一個 30% 增量的分析應用在解決方法在 30kV 和 1nA。

「我們被說服這是最重大的創新在常規 SEM 的市場上在最後十年。 許多應用在生命科學和材料分析將受益於增加的性能」,在劍橋解釋從卡爾蔡司納諾技術系統部的 Allister Mc 新娘。

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