Posted in | Nanoelectronics | Microscopy

FEI om Technologie TEM aan CEA-Leti Te Verstrekken om 22nm de Materialen van de Halfgeleider Te Kenmerken

CEA-Leti kondigde vandaag aan de bedrijven een driejarige overeenkomst zijn aangegaan om geavanceerde halfgeleidermaterialen voor de 22nm technologieknoop te kenmerken en verder. Europese CEA-Leti, met zijn twee partners op het Platform NanoCharacterization van Campus MINATEC, CEA-Liten (nieuwe materialen voor nieuwe energieën) en cea-INAC (Instituut Nanoscience) zal, hun deskundigheid inzake holografie en nanobeam diffractie toepassen.

FEI zal geavanceerde nanobeam diffractietechnologie van zijn elektronenmicroscoop van de het aftastentransmissie van de Titaan (S/TEM), de krachtigste, in de handel verkrijgbare microscoop van de wereld voorzien. De bedrijven zullen spanningsveranderingen in halfgeleiderstructuren meten.

FEI Titam TEM

Het „onderzoek zal zich op twee belangrijke gebieden concentreren: gebruik van holografie met de unieke XFEG het elektronenbron van de Titaan om de gevoeligheid te verbeteren die van additief, en het gebruik van de technieken van de nanobeamdiffractie om veranderingen in spanning en andere kristallografische parameters te meten,“ bovengenoemde George Scholes, ondervoorzitter en algemene manager voor het productlijn van FEI S/TEM profileren. „Met de Titaan, is FEI een leider op deze gebieden en wij verheugen ons op partnering met CEA-Leti op hun uniek platform voor karakterisering en nanoscale in het blijven de technologie vooruitgaan.“

„Wij moeten de gevoeligheid, nauwkeurigheid en productie verbeteren die van additief de de profileren blijven steunend krimpende apparatenafmetingen. En een beter inzicht in de gevolgen van spanning is kritiek in de ontwikkeling van de apparaten van hogere prestatiesIC aangezien wij de technologie aan de 22nm technologieknoop en verder,“ verklaarde Rudy Kellner, ondervoorzitter en algemene manager van de Afdeling van de Elektronika van FEI blijven duwen.

Volgens Laurent Malier, CEO van CEA-Leti, „Wij verkozen om met FEI aan dit driejarige onderzoekproject, niet alleen wegens hun krachtige, in de handel verkrijgbare microscoop, maar ook wegens hun speciale deskundigheid inzake de toepassingen van de nanobeamdiffractie te werken. Samen, denken wij om verscheidene kritieke technische wegversperringen te richten die de halfgeleiderindustrie onder ogen zien die aangezien het de apparatengrootte en de prestatiesenvelop en ook uitdagingen in de karakterisering van materialen blijft duwen in nanoelectronics en meer over het algemeen voor nanosciences worden gebruikt.“

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit