NT-MDT 在美国设立基于的新的 AFM 开发组

NT-MDT 发展在坦佩,亚利桑那,是 NT-MDT 设立的新的小组 Co。 有经验的 AFM 开发员 Sergei Magonov,约翰亚历山大和 Sergey Belikov 参加了这家公司。

要解决 NT-MDT Co. 的增长的活动在扫描上美国和世界市场请探查显微学设备,这家公司邀请了有经验的 AFM 开发员和实习者: Sergei Magonov,约翰亚历山大和 Sergey 形成研究单位 NT-MDT 发展的 Belikov 在坦佩,亚利桑那。

Sergei Magonov 博士

此小组,结合了差不多 60 年的 SPM 经验,将集中其新颖的多频的 SPM 技术的工作成绩于发展和应用与多种材料的定量 nanomechanical 和电评定有关。

小组博士 Sergei Magonov 的领导先锋在他获得他的 PhD 和开展了对聚合物的研究在俄国科学院的前苏联受教育。

在 1988年博士 Magonov 搬到德国 (弗莱堡大学) 他运用了第一扫描挖洞显微学 (STM)和基本强制显微学 (AFM)于不同的材料的地方。 在此期间得到的科学结果在这本书 (被写与 M. Whangbo) 教授一起 “与 STM 和 AFM 的表面分析被总结了”, VCH Weinheim 1996年。

1995年 Sergei 被连接的数字仪器 - 他在多种 AFM 应用开发中介入在软的材料的扫描探测显微镜的制造商。 在 2007年在度过与数字仪器/Veeco 仪器后的 12 年他移动了向 Agilent 技术,扫描探测显微学另一个制造商,他继续对 AFM 的研究。

当他设计一个低温 STM 显微镜在他的物理研究期间在阿克伦大学时,约翰亚历山大在 1986年熟悉 SPM。 在与重要资料的毕业以后在物理 1988年约翰在亚利桑那输入了其中一第一 SPM 企业 - Angstrom Technology Inc。

20 正年约翰亚历山大在制造扫描探测显微镜的几家公司中从事了作为主导的电子和系统工程师: 最近停放科学, KLMTencor,分子想象,和在 Agilent 技术。

他是编号研究条款的共同执笔者,并且在扫描的 6 个美国专利探查显微学。 最近利息在多频率 AFM 评定的发展。

Sergey Belikov 在他在基辅工学院接受 MS 和 PhD 在乌克兰科学院控制论学院的前苏联被教育了。 他的在数学的研究活动集中于平均为在 AFM 最近运用的方法的发展。

自 1991年 Sergey 以来在很多家研究机构和公司中从事了在他的专门技术在另外软件开发中被实施多种研究和行业控制应用的美国。

在扫描探测显微学的 Belikov 博士的活动被设立了在他的在 Veeco 仪器的雇佣期间 (2001-2008) 他在一个 nanomechanical 分析程序包和其他应用的设计的地方扮演一个关键角色。 在连接 NT-MDT 发展前 Sergey 在 3M 公司中运作。 Sergey 是 10 个专利的共同执笔者和 70 个研究论文。

NT-MDT 发展在 2011年 4月开始了活动。

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