Primer Patrón de la Calibración de la Capacitancia para los Utilizadores del AFM

Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) introdujo hoy el primer patrón disponible en el comercio de la calibración de la capacitancia para un microscopio atómico de la fuerza (AFM). El proveedor científico de las soluciones publicó los pliegos de condiciones de la calibración para las mediciones de la capacitancia que permiten la evaluación cuantitativa de las propiedades del material y del dispositivo vía su Modo premiado de la Microscopia de la Microonda de la Exploración.

Los Investigadores de Agilent colaboraron con el National Institute of Standards and Technology (Laboratorios del NIST Boulder) para establecer el nuevo patrón.

El Modo del SMM de Agilent es la única técnica eléctrica AFM-basada de la caracterización que da a investigadores capacitancia calibrada verdadera.

El “Modo de SMM es la única técnica eléctrica AFM-basada de la caracterización que permite capacitancia calibrada verdadera de los investigadores,” dijo a Jeff Jones, jefe de explotación para el recurso del nanoinstrumentation de Agilent en el Cerero, Arizona “que Esta información cuantitativa es crítica entender mejor la reacción y el comportamiento de los sistemas del nanoscale, especialmente cuando las propiedades del dispositivo tienen que ser evaluadas en sus frecuencias previstas de la operación.”

El Modo de SMM es un método único que utiliza un analizador de red del vector de la microonda de Agilent conjuntamente con un Agilent 5420 o 5600LS AFM para medir las propiedades asociadas a pequeñas variaciones en las acciones recíprocas electromágneticas de los componentes de una muestra con la microonda del incidente hacen señales, estático o dinámicamente. La técnica Agilent-Exclusiva se puede utilizar para la medición en los semiconductores (ninguna capa del óxido requerida), los metales, los materiales dieléctricos, los materiales ferroeléctricos, los aisladores y los materiales biológicos. Los Datos de muestras representativas demuestran que el Modo de SMM es capaz de correlacionar propiedades materiales en una resolución limitada final por la agudeza de la antena del AFM.

El Modo del SMM de Agilent fue nombrado un ganador de la Recompensa del R&D 100 por un panel de juicio independiente y los editores del Alimentador del R&D. También fue nombrado un ganador 2009 de la Recompensa del Prisma por los jueces de SPIE y el comité consultivo de Laurin Que Publicaba el alimentador de los Espectros de Photonics.

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