Première Norme d'Étalonnage de Capacité pour des Utilisateurs d'AFM

Agilent Technologies Inc. (NYSE : A) a aujourd'hui introduit la première norme disponible dans le commerce d'étalonnage de capacité pour un microscope atomique de force (AFM). Le fournisseur scientifique de solutions a publié des caractéristiques d'étalonnage pour les mesures de capacité qui permettent l'évaluation quantitative des propriétés de matériau et de dispositif par l'intermédiaire de son Mode qui a reçu un prix de Microscopie d'Hyperfréquences de Lecture.

Les Chercheurs d'Agilent ont collaboré avec le National Institute of Standards and Technology (Laboratoires de NIST Boulder) pour déterminer la norme neuve.

Le Mode du SMM d'Agilent est la seule technique électrique AFM-basée de caractérisation qui donne à des chercheurs la capacité étalonnée vraie.

Le « Mode de SMM est la seule technique électrique AFM-basée de caractérisation qui a les moyens la capacité étalonnée vraie de chercheurs, » a dit Jeff Jones, directeur des opérations pour l'installation du nanoinstrumentation d'Agilent dans le Fournisseur, Arizona « que Cette information quantitative est critique pour comprendre mieux la réaction et le comportement des systèmes de nanoscale, particulièrement quand des propriétés de dispositif doivent être évaluées à leurs fréquences destinées de fonctionnement. »

Le Mode de SMM est une seule méthode qui utilise un analyseur de réseau de vecteur d'hyperfréquences d'Agilent de concert avec un Agilent 5420 ou 5600LS AFM pour mesurer des propriétés associées avec de petites variations des interactions électromagnétiques des composants de témoin avec les hyperfréquences d'incident signalent, statiquement ou dynamiquement. La technique d'Agilent-Exclusivité peut être utilisée pour la mesure sur des semi-conducteurs (aucune couche d'oxyde requise), des métaux, des matériaux diélectriques, des matériaux ferroélectriques, des isolants et des matériaux biologiques. Les Données des échantillons représentatifs expliquent que le Mode de SMM est capable de tracer les propriétés matérielles à une définition éventuel limitée par la netteté de la sonde d'AFM.

Le Mode du SMM d'Agilent a été nommé un Lauréat du prix de R&D 100 par une Commission de jugement indépendante et les éditeurs du Magazine de R&D. Il a été également nommé un Lauréat du prix 2009 de Prisme par les juges de SPIE et le comité consultatif de Laurin Publiant le magazine de Spectres de Photonics.

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