De Eerste Norm van de Kaliberbepaling van de Capacitieve Weerstand voor Gebruikers AFM

Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) introduceerde vandaag de eerste in de handel verkrijgbare norm van de capacitieve weerstandskaliberbepaling voor een atoomkrachtmicroscoop (AFM). De wetenschappelijke oplossingenleverancier gaf kaliberbepalingsspecificaties voor capacitieve weerstandsmetingen die uit kwantitatieve beoordeling van materiaal en apparateneigenschappen via zijn met een prijs bekroonde Wijze van de Microscopie van de Microgolf van het Aftasten toestaan.

De Onderzoekers van Agilent werkten met het Nationale Instituut van Normen en Technologie (de Laboratoria van de Kei NIST) samen om de nieuwe norm vast te leggen.

De Wijze van SMM van Agilent is de enige op AFM-Gebaseerde elektrokarakteriseringstechniek die onderzoekers ware gekalibreerde capacitieve weerstand geeft.

„De Wijze SMM is de enige op AFM-Gebaseerde elektrokarakteriseringstechniek die zich onderzoekers ware gekalibreerde capacitieve weerstand,“ bovengenoemde Jeff Jones, verrichtingenmanager voor nanoinstrumentationfaciliteit van Agilent in Chandler, Ariz veroorlooft. „Deze kwantitatieve informatie is kritiek de reactie en het gedrag van nanoscalesystemen beter om te begrijpen, vooral wanneer de apparateneigenschappen bij hun voorgenomen verrichtingsfrequenties moeten worden beoordeeld.“

De Wijze SMM is een unieke methode die een Agilent analysator van het microgolf vectornetwerk in overleg met een Agilent 5420 of 5600LS AFM gebruikt om eigenschappen te meten verbonden aan kleine variaties in de elektromagnetische interactie van de componenten van een steekproef met het inherente microgolfsignaal, statisch of dynamisch. De agilent-Exclusieve techniek kan voor meting op halfgeleiders (geen vereiste oxydelaag), metalen, diëlektrische materialen, ferroelectric materialen, isolatie en biologische materialen worden gebruikt. De Gegevens van representatieve steekproeven tonen aan dat de Wijze SMM materiële die eigenschappen bij een resolutie uiteindelijk kan in kaart brengen door de scherpte van de sonde AFM wordt beperkt.

De Wijze van SMM van Agilent werd genoemd een winnaar van de Toekenning van R&D 100 door een onafhankelijk oordelend paneel en de redacteurs van R&D- Tijdschrift. Het werd ook een winnaar van de Toekenning van het Prisma van 2009 door rechters van SPIE en de adviserende raad die van Laurin genoemd het tijdschrift van Spectrums Publiceren Photonics.

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit