AFM 用户的第一个电容定标标准

Agilent Technologies Inc. (NYSE : A) 今天引入一个基本强制显微镜的第一个商业可用的电容定标标准 (AFM)。 科学解决方法提供者发行了通过其得奖的扫描微波显微学模式允许对材料和设备属性的定量鉴定的电容评定的定标说明。

从 Agilent 的研究员与国家标准技术局 (NIST 巨石城实验室) 合作设立新的标准。

Agilent 的 SMM 模式是产生研究员真的被校准的电容的唯一的基于 AFM 的电子描述特性技术。

“SMM 模式是买得起研究员真的被校准的电容的唯一的基于 AFM 的电子描述特性技术”,说杰夫琼斯, Agilent 的 nanoinstrumentation 设备的操作管理员在杂货商,亚利桑那 “此定量信息是重要更好了解 nanoscale 系统回应和工作情况,特别是当设备属性必须被估计以他们的打算的运算频率时”。

SMM 模式静态或动态地是使用一台 Agilent 微波向量网络分析仪协力 Agilent 5420 或评定属性的 5600LS AFM 与在范例的要素电磁相互作用的上小的变化相关与事件微波的发信号的一个唯一方法。 Agilent 独有的技术可以为在半导体 (没有需要的氧化物层),金属、电介质材料、铁电的材料、装绝缘体工和生物材料的评定使用。 从代表性抽样的数据显示出, SMM 模式能够映射有形资产在 AFM 探测的锋利根本地限制的解决方法。

Agilent 的 SMM 模式是由独立陪审团命名的 R&D 100 证书赢利地区和 R&D 杂志编辑。 它由从 SPIE 的法官和也命名 2009年棱镜证书赢利地区发布 Photonics 光谱杂志的 Laurin 顾问委员会。

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