JPK 儀器生成 NanoWizard 3 NanoOptics AFM 系統

JPK 儀器, nanoanalytic 手段世界領先的製造商研究的在生命科學和軟的問題,繼續擴展高性能與 NanoWizard 3 NanoOptics AFM 系統的可用性的聲明的研究系統其系列。

在過去十年中,在 nanoscale 的光學現象開發了成扣人心弦的研究領域。 要學習在 nanoscale 的光和特別是其與問題的交往,研究員尋找與毫微米空間分辨率的方法。 光顯微學派生的技術和掃描探測顯微學的組合是一個強大的解決方法。 此所謂的近域光學顯微學提供從範例表面的光學信息與子波長解決方法。

JPK 生成 NanoWizard®3 NanoOptics AFM 系統。

在開始 SPM 和光學的 2003年 JPK 首先耦合了他們的 NanoWizard AFM 到喇曼分光儀一個新的章節。 建立牢固的與納諾光學社區的關係,合作與全世界建築師和用戶使 JPK 開發更加強大和更加靈活的系統。 JPK 嚴格相信結合技術,特別是與光學的 AFM。 這打開了新建應用程序的域包括 TERS/SERS、技巧改進的熒光、 nanomanipulation 與光,化工表面分析和複合檢測、光學上有效部分的 metamaterials、發展例如染料,標記、光源和切換。 很大數量的用戶發行強調此技術途徑的成功。 現在, JPK 引入他們的 AFM 和光學的 - NanoWizard3 NanoOptics 系統最新的平臺。

既使當這臺題頭和冷凝器到位, NanoWizard NanoOptics 題頭來自與對這個範例的非常好的實際和光學存取自頂層和底層以及前線和端。 另外,它有纖維 SNOM 應用的一個集成端口。

新的系統準備好從 nanoscale 光學想像的各種各樣的應用由開口和分散型的 SNOM 對介入光的交往的實驗與範例例如吸收、勵磁,非線性作用和熄滅。 這些包括開口在 NanoOptics 題頭和音叉模塊的一個集成纖維 SNOM 端口允許技術的容易的綜合化的纖維 SNOM 實驗。

NanoWizard3 NanoOptics AFM 可以用於很大數量的配置。 AFM 系統可以為許多應用使用。 連接和運行不同的題頭例如 ForceRobot300 和 CellHesion200 或者使用 TopViewOptics 也是可能的。

世界各地顯示與示例的許多應用程序方面從 JPK 用戶的一個全面手冊是可用的。 JPK 開發,設計并且製造手段在德國對德國精確工程、質量和功能聞名世界的標準。

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit