Horiba Ellipsometers deviennent Bien plus Versatile

Le RM d'UVISEL+ des Films Minces de Horiba Jobin Yvon étend la capacité de l'UVISEL avec un Module indépendant neuf de Réflectométrie (RM) qui peut être monté sur le goniomètre d'UVISEL. Le module de RM de coût bas est disponible ou comme option ou comme mise à jour pour tous les modèles actuels du Visible et du NIR UVISEL Ellipsometers Spectroscopique comme module est simplement connecté à la lampe Xénon et au monochromateur de l'UVISEL par l'intermédiaire de deux fibres optiques.

L'UVISEL Ellipsometers Spectroscopique de Division de Film Mince de Horiba Jobin Yvon.

Le RM permet des mesures de Réflectivité à l'incidence normale sur la gamme 210nm de longueurs d'onde - 2100 nanomètre avec un endroit de mesure de 200 µm, et par l'intégration d'ellipsometry et de la réflectométrie le RM d'UVISEL+ active flexible et des mesures précises de :

  • L'Épaisseur d'une seule et multiple couche filme l'échelonnement de 1Å au µm 30,
  • Propriétés Optiques (N, k, α) des matériaux,
  • Mesure spectroscopique Directe de réflectivité d'échantillon
  • Description Précise des piles de film mince pour des surfaces adjacentes, rugosité, inhomogénéités…

Le RM d'UVISEL+ est simple pour utiliser utilisant le système et les avantages de la saisie DeltaPsi2 à partir de la grande base de données de matériaux et des caractéristiques techniques puissantes d'analyse du logiciel. Pour des applications difficiles il est possible de gripper la mesure ellipsometry et de réflectométrie pour l'analyse d'un échantillon.

Le RM d'UVISEL+ est une plate-forme spectroscopique flexible de métrologie qui est idéale pour photovoltaïque, affichage, couches optiques et applications de préparations de surface.

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