Horiba Ellipsometers diventa Ancor più Versatile

Il RM di UVISEL+ dalle Pellicole Sottili di Horiba Jobin Yvon estende la capacità del UVISEL con un nuovo Modulo indipendente di Reflectometry (RM) che può essere montato sul goniometro di UVISEL. Il modulo di RM di basso costo è disponibile o come opzione o come aggiornamento per tutti i modelli correnti del Visibile e del NIR UVISEL Ellipsometers Spettroscopico come il modulo è connesso semplicemente alla lampada allo xeno Ed al monocromatore del UVISEL via due fibre ottiche.

Il UVISEL Ellipsometers Spettroscopico da Divisione della Pellicola Sottile di Horiba Jobin Yvon.

Il RM permette le misure di Riflessione all'incidenza normale sopra la lunghezza d'onda 210nm - 2100 nanometro con un punto di misura di 200 µm e con l'integrazione di ellipsometry e di reflectometry il RM di UVISEL+ permettono alle misure flessibili ed accurate di:

  • Lo Spessore di singolo e livello multiplo filma la gamma da 1Å al µm 30,
  • Beni Ottici (N, K, α) dei materiali,
  • Misura spettroscopica Diretta della riflessione del campione
  • Descrizione Precisa delle pile della pellicola sottile per le interfacce, rugosità, eterogeneità…

Il RM di UVISEL+ è semplice funzionare facendo uso del sistema e dei vantaggi di acquisizione DeltaPsi2 a partire dal grande database dei materiali e dalle funzionalità potenti dell'analisi del software. Per le applicazioni difficili è possibile legare sia la misura di reflectometry che ellipsometry per l'analisi di un campione.

Il RM di UVISEL+ è una piattaforma spettroscopica flessibile della metrologia che è ideale per fotovoltaico, visualizzazione, rivestimenti ottici e le applicazioni dei trattamenti di superficie.

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