薄膜的新,更加强大的分析软件从 HORIBA Jobin Yvon

HORIBA Jobin Yvon,分光镜 ellipsometers 主导的制造商研究和行业的,提供先进的薄膜描述特性平台叫的 DeltaPsi2。 这个软件适用于 ellipsometry,测极化和反射计和控制所有 HORIBA Jobin Yvon 薄膜计量学仪器。

DeltaPsi2 软件为薄膜结构的准确和灵活的描述特性提供先进的评定,塑造和报告功能。

功能包括厚度、光学常数、梯度、各向异性现象、合金构成、 bandgap 计算、地面粗糙度、 EMA、后侧方更正、多联合的评定/分析数据的计算和更。

它集成对于物质光学常数的准确描述特性和色散关系是必需的最大的材料数据库参考。

最近改进集中于自动塑造的色散关系的运算包括自动贴合程序和分析的参数化易用的和速度。 它也合并在定期结构 (1D,第 2 滤栅) 的描述特性的最新的预付款。

) DeltaPsi2 软件平台也驱动很好的 ellipsometers 例如 UT-300 和 FF-1000 和轴向 ellipsometers (例如滚监控仪器的辊。 这个软件包括一个全自动机械的运行环境和先进的通信协议 (RS232, TCP/IP) 稳健薄膜计量学控制的。 DeltaPsi2 软件在半导体片和玻璃面板,统计分析,先进的数据处理,导入/导出程序包功能提供映射结果和重新处理功能的标准化的形象化。

最近, HORIBA Jobin Yvon 生成了新的自动 SE,薄膜质量管理的一全自动机械的 ellipsometer。 驱动由在 DeltaPsi2 平台包括的新的自动软的软件包,此新的创新软件被设计提供 ellipsometric 分析的容易的运算没有妥协在数据质量。

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