Пакет Напряжения TrueCrystal FEI Новый Совмещает Легкий в Использовании с Уменьшенным Временем к Данным

Компания FEI, ведущий провайдер воображения атомн-маштаба и ситемы анализа, сегодня выпустили свой новый пакет Анализа Напряжения TrueCrystal который можно установить на систему Титана (TM) или скеннирования/просвечивающего электронного микроскопа Tecnai (TM) (S/TEM). Новый, автоматизированный пакет анализа напряжения позволяет инженерам достигнуть сильно точных измерений в фракция времени существующих методов.

«Инженерство напряжения Кремния важный процесс нововведения в предварительном изготавливании полупроводника; оно позволяет для улучшенных представления и эффективности прибора на узлах передовой технологии. В Настоящее Время, только TEM доказывало способное измерять эти наведенные напряжения решетки на необходимом пространственном разрешении,» сказал Гонку Иосиф, менеджер маркетинга товара, Разделение Электроники на FEI. «Анализ Напряжения TrueCrystal полный аналитически пакет для определения напряжения вдоль любой линии в кристаллическом образце, на уровне нанометра.»

Тони Edwards, недостаток - президент и генеральный директор Разделения Электроники FEI, добавляет, «пакет Анализа Напряжения TrueCrystal FEI пример нашего корпоративного принятия окончательного решения к обеспечивать клиентов с всесторонними, специфический для приложения разрешениями которые направляют увеличить урожайность TEM, уменьшают времена сбора информации и понижают общую цену анализа.»

TrueCrystal leverages огибание nano-луча сочетание из (NBD) в TEM, и мощный автономный пакет анализа данных, к быстро и легко производит высокомарочные данные необходимо для предварительного напряженного развития кремния отростчатого.

Метод NBD не подлеубежал ограничения наблюдаемые в более традиционных методах, как высок-разрешение TEM (HRTEM) и дифракция электронов сходящийся луч (CBED). На-линия программный компонент работает внутри пользовательский интерфейс микроскопа, и прямодушный поток операций лини-развертки будет знаком к любому которое предпринимало химический анализ на TEM. Автономный программный компонент позволяет для анализа напряжения каждого индивидуального дифракционного максимума приобретенных дифракционных карт. Приводя к данные после этого использованы автоматически для того чтобы произвести график профиля напряжения через приобретенную линию развертку. От эксперимента, через уменьшение окончательных данных, к представлению результатов, пакет Анализа Напряжения TrueCrystal совмещенный с Титаном или Tecnai TEM позволят быстрому, точному определению профиля напряжения в обширном ряде образцов.

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit