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Extreme Hohe Auflösung SEM FEIS Erlaubt VorNm-Auflösung

Magellan™ FEIS erlaubt neues extremes hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (XHR SEM) Wissenschaftler und Ingenieuren, bilder 3D in vielen verschiedenen Winkeln und an den Auflösungen unterhalb eines nm schnell zu sehen Oberflächen(über die Größe von zehn Wasserstoffatomen, nebeneinander). Am wichtigsten, die Bildproben Magellan XHR SEM an den sehr niedrigen Strahlenenergien, die Verzerrungen vermeiden andernfalls verursacht durch den Träger, der in das Material unten eindringt.

Die Extreme Hohe Auflösung SEM Magellan von FEI.

FEI entbindet die innovativsten Lösungen für Darstellung, Kennzeichnung und Erstausführung am nanoscale. Die höchstentwickelten TEM der Firma, SEM und DualBeam™-Lösungen wurden speziell für Materialwissenschaft, Biowissenschaft und Bergbau erstellt. Besuchen Sie Bitte FEI bei Pittcon 2009 in Stand 1642, um mehr über den Magellan und andere hochauflösende Mikroskopietechniken zu lernen.

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