Posted in | Microscopy | Nanoanalysis

De Extreme Hoge Resolutie SEM van FEI Staat SubResolutie Nanometer toe

De nieuwe Magellan™ extreme high-resolution het aftastenelektronenmicroscoop van FEI (XHR SEM) staat wetenschappers en ingenieurs toe om 3D oppervlaktebeelden bij vele verschillende hoeken en bij resoluties onder één nanometer (ongeveer de grootte van tien waterstofatomen, zij aan zij) snel te zien. Het belangrijkst, de de beeldensteekproeven van Magellan XHR SEM bij zeer lage straalenergieën, die vervormingen vermijden door de straal anders worden veroorzaakt die in het hieronder materiaal doordringen.

De Magellan Extreme Hoge resolutie SEM van FEI.

FEI levert de meest innovatieve oplossingen voor weergave, karakterisering en prototyping bij nanoscale. Meest geavanceerde TEM van het bedrijf, de oplossingen SEM, werden en DualBeam™ gecreeerd specifiek voor materialenwetenschap, het levenswetenschap, en mijnbouw. Gelieve te bezoeken FEI in Pittcon 2009 in cabine 1642 om meer over Magellan en andere high-resolution de microscopietechnieken te leren.

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit