Sistema di NanoWizard 3 NanoOptics AFM dei Lanci degli Strumenti di JPK

Gli Strumenti di JPK, un produttore di livello mondiale di strumentazione nanoanalytic per la ricerca nelle scienze biologiche e materia molle, continuano ad espandere la sua famiglia dei sistemi della ricerca di rendimento elevato con l'annuncio della disponibilità del sistema di NanoWizard 3 NanoOptics AFM.

Negli ultimi dieci anni, i fenomeni ottici sul nanoscale si sono sviluppati in un campo di ricerca emozionante. Per studiare l'indicatore luminoso sul nanoscale e particolarmente la sua interazione con la materia, i ricercatori cercano i metodi con risoluzione spaziale di nanometro. La combinazione di tecniche e di Microscopia della Sonda di Scansione Microscopia-Derivate Indicatore Luminoso è una soluzione potente. Questa Microscopia Ottica del cosiddetto Quasi-Campo trasmette le informazioni ottiche dalle superfici del campione con risoluzione di sotto-lunghezza d'onda.

Lancio di JPK il Sistema di NanoWizard®3 NanoOptics AFM.

JPK in primo luogo ha accoppiato il loro NanoWizard AFM ad uno spettrometro di Raman nel 2003 che inizia un nuovo capitolo per SPM e l'ottica. Lo Sviluppo delle relazioni forti con la comunità delle nano-ottica, collaborando con gli operai edili e gli utenti universalmente ha permesso a JPK di mettere a punto i sistemi più potenti e più flessibili. JPK crede forte nella combinazione delle tecniche, in particolare AFM con l'ottica. Ciò ha aperto un campo delle nuove applicazioni compresi TERS/SERS, la fluorescenza suggerimento-migliorata, nanomanipulation con indicatore luminoso, l'analisi di superficie chimica e rilevazione composta, metamaterials, gli sviluppi otticamente dei componente attivi quali le tinture, indicatori, sorgenti luminose e opzioni. Tantissime pubblicazioni dell'utente sottolineano il successo di questo approccio della tecnologia. Ora, JPK introduce la loro ultima piattaforma per il AFM e l'ottica - il sistema di NanoWizard3 NanoOptics.

La testa di NanoWizard NanoOptics viene con accesso fisico ed ottico eccellente al campione dall'alto e dal basso come pure dalla parte anteriore e dal lato, anche quando la testa ed il condensatore esistono. Ulteriormente, ha una porta integrata per le applicazioni della fibra SNOM.

Il nuovo sistema è pronto per una vasta gamma di applicazioni dalla rappresentazione ottica del nanoscale dall'apertura diaframma e SNOM scattering tipo agli esperimenti che comprendono le interazioni di indicatore luminoso con il campione quale assorbimento, l'eccitazione, effetti non lineari ed estiguenti. Questi comprendono gli esperimenti della fibra SNOM dell'apertura diaframma dove una porta integrata della fibra SNOM nella testa di NanoOptics e nel modulo del diapason permette l'integrazione senza problemi delle tecniche.

Il NanoWizard3 NanoOptics AFM può essere utilizzato in tantissime configurazioni. Il sistema del AFM può essere usato per le molte altre applicazioni. È egualmente possibile collegare ed eseguire le teste differenti quali il ForceRobot300 e il CellHesion200 o usare il TopViewOptics.

Un opuscolo completo è disponibile che mostra molti altri campi di applicazioni con gli esempi dagli utenti di JPK da tutto il mondo. JPK sviluppano, costruiscono e fabbricano la strumentazione in Germania agli standard mondo-riconosciuti di meccanica di precisione, di qualità e di funzionalità Tedesche.

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