J.A. Woollam IR-VASE 分光鏡 Ellipsometer

IR-VASE® 是報道從 2 的光譜範圍的仅第一个和分光鏡 ellipsometer 到 30 微米 (333 到 5000 wavenumbers)。 IR-VASE 可能確定 n 和 k 材料的在這個光譜範圍的整個寬度,无需外推數據在被評定的範圍之外,與 Kramers-Kronig 分析。 像其他 Woollam ellipsometers, IR-VASE 對薄膜或粒狀材料是理想的包括電介質、半導體、聚合物和金屬。

為什麼 IR-VASE ?

  • 非破壞性的描述特性
    IR-VASE 提供許多不同的有形資產的沒有接觸的評定包括厚度光學常數,物質構成,化工接合,摻雜濃度和更多。 評定不要求真空,并且可以使用學習液體/固定的界面公用在生物和化學應用。
  • 沒有需要的草擬或參考樣品
    Ellipsometry 是不要求掃描或參考樣品維護準確性的模塊化技術。 小於射線直徑的範例可以被評定,因為整個射線不需要收集。
  • 極為準確的評定
    給予專利的定標和數據收集程序取消不完美的光學要素的作用提供 Ø 和 Ä 的準確評定。

Last Update: 3. February 2012 16:18

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