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Renishaw Raman avec l'AFM Entièrement Intégré

Renishaw ont développé la technologie optimisée de raccordement direct effectuant au microscope de Raman d'inVia l'associé parfait pour s'accoupler à une grande variété de SPM, offrant à Extrémité la Spectroscopie Améliorée de Raman (TERS), à techniques de proche-zone (SNOM, NSOM) et à capacités Raman-AFM.

Le microscope de Raman d'inVia offre le potentiel pour s'accoupler à n'importe quel SPM ou AFM, avec les systèmes entièrement intégrés disponibles avec des balayeurs de NT-MDT.

Systèmes de visualisation et d'analyse de Nanotechnologie pour la recherche et l'industrie

  • Mesurez les propriétés physiques à la définition moléculaire et l'analyse chimique à l'échelle de sous-micromètre
  • Corrélation Simultanée de cautionnements de Raman et d'AFM entre les images
  • Une solution de plate-forme fournit la confiance, la fiabilité, et la simplicité d'utilisation.

Le Renishaw a entièrement intégré Raman avec l'AFM des caractéristiques techniques de NT-MDT :

  • Renishaw Raman Simultané et représentation d'AFM, avec le transparent d'image
  • AFM pour des images élevées de résolution spatiale :
    haut-cahier des charges, ultra-faible-bruit NT-MDT NTEGRA
  • Microscopie de Raman pour l'identification chimique sans ambiguïté : microscope plein-flexible de Raman d'inVia de Renishaw
  • Entièrement TERS capable (dispersion extrémité-améliorée de Raman)
  • Le couplage optique direct Très efficace (aucune fibres optiques) réduit à un minimum des temps de mesure de Raman
  • l'inVia supporte un large éventail de longueurs d'onde d'excitation de Raman, activant l'analyse des matériaux les plus provocants
  • Disponible avec le montant et les microscopes inversés de la géométrie
  • Contrôle du logiciel Intégré à partir d'un ordinateur unique

Last Update: 11. January 2012 04:39

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