Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

有充分地集成 AFM 的 Renishaw 喇曼

Renishaw 開發了做 inVia 喇曼顯微鏡耦合的優化直接耦合技術理想的合作夥伴對各種各樣的 SPM、提供的技巧改進的喇曼分光學 (TERS)、近域技術 (SNOM, NSOM) 和喇曼 AFM 功能。

inVia 喇曼顯微鏡為所有 SPM 或 AFM 提供在耦合的潛在,與充分地集成系統可用對掃描程序從 NT-MDT。

納米技術形象化和分析系統研究和行業的

  • 評定物理屬性在分子解決方法和化學分析在子測微表縮放比例
  • 圖像之間的同時喇曼和 AFM 保證相關性
  • 一個平臺解決方法提供電話會議、可靠性和易用。

Renishaw 充分地集成有 AFM 的喇曼從 NT-MDT 功能:

  • 同時 Renishaw 喇曼和 AFM 想像,與圖像重疊
  • 高空間分辨率圖像的 AFM :
    高說明,超低噪聲 NT-MDT NTEGRA
  • 毫不含糊的化工確定的喇曼顯微學: 充分靈活的 Renishaw inVia 喇曼顯微鏡
  • 能够充分的 TERS (技巧改進的喇曼分散)
  • 非常有效率的直接光學聯結 (沒有光纖) 使喇曼評定時間減到最小
  • inVia 支持各種各樣的喇曼勵磁波長,啟用對最富挑戰性的材料的分析
  • 可用對直立的東西和被倒置的幾何顯微鏡
  • 集成軟件控制從一臺唯一計算機

Last Update: 23. January 2012 04:50

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment