Renishaw 開發了做 inVia 喇曼顯微鏡耦合的優化直接耦合技術理想的合作夥伴對各種各樣的 SPM、提供的技巧改進的喇曼分光學 (TERS)、近域技術 (SNOM， NSOM) 和喇曼 AFM 功能。
inVia 喇曼顯微鏡為所有 SPM 或 AFM 提供在耦合的潛在，與充分地集成系統可用對掃描程序從 NT-MDT。
納米技術形象化和分析系統研究和行業的
- 評定物理屬性在分子解決方法和化學分析在子測微表縮放比例
- 圖像之間的同時喇曼和 AFM 保證相關性
- 一個平臺解決方法提供電話會議、可靠性和易用。
Renishaw 充分地集成有 AFM 的喇曼從 NT-MDT 功能：
- 同時 Renishaw 喇曼和 AFM 想像，與圖像重疊
- 高空間分辨率圖像的 AFM ：
高說明，超低噪聲 NT-MDT NTEGRA - 毫不含糊的化工確定的喇曼顯微學： 充分靈活的 Renishaw inVia 喇曼顯微鏡
- 能够充分的 TERS (技巧改進的喇曼分散)
- 非常有效率的直接光學聯結 (沒有光纖) 使喇曼評定時間減到最小
- inVia 支持各種各樣的喇曼勵磁波長，啟用對最富挑戰性的材料的分析
- 可用對直立的東西和被倒置的幾何顯微鏡
- 集成軟件控制從一臺唯一計算機